CEA-Leti開發(fā)單芯片CoolCube 3D技術
- 分類:行業(yè)新聞
- 發(fā)布時間:2015-04-08
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【概要描述】法國原子能署電子暨資訊技術實驗室(CEA-Leti)宣布開發(fā)出單晶片(Monolithic) CoolCube 3D 設計途徑,其目標在于成為第一個授權單晶片 3D 技術的單位之一。
CEA-Leti開發(fā)單芯片CoolCube 3D技術
【概要描述】法國原子能署電子暨資訊技術實驗室(CEA-Leti)宣布開發(fā)出單晶片(Monolithic) CoolCube 3D 設計途徑,其目標在于成為第一個授權單晶片 3D 技術的單位之一。
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轉自:eettaiwan
法國原子能署電子暨資訊技術實驗室(CEA-Leti)宣布開發(fā)出單晶片(Monolithic) CoolCube 3D 設計途徑,其目標在于成為第一個授權單晶片 3D 技術的單位之一。這項 CoolCube 3D 晶片技術計劃由法國政府、IBM與高通(Qualcomm)等公司共同贊助合作。
根據法國格勒諾布爾-阿爾卑斯大學(University of Grenoble Alpes)教授Olivier Billoint表示,單晶片 CoolCub 技術結合了傳統的互補金屬氧化物半導體(CMOS)處理技術、在中間層利用冷卻 CMOS 制程步驟以及鎢互連與穿孔的單層堆疊,以及頂層的銅金屬。
“CoolCube 是單片3D晶片制造技術,底層采用傳統的 CMOS 熱制程,而內層則利用 Billoint及其研究小組們認為,他們開發(fā)的 CoolCube 3D 晶片設計途徑適用于傳統的 CMOS 制程,但所具有的優(yōu)點就像以 2D 平面晶片進展到下一個制程節(jié)點一樣,從而延長了摩爾定律,只不過是以垂直的方向進展。
“我們利用傳統的 2D CMOS 制程,在分層之間制造 3D 穿孔,所取得的優(yōu)點就像以 2D 進展到更先進的制程節(jié)點一樣,”Billoint表示,“我們預計這種途徑可使功耗降低30%,性能提高40%,晶片面積更大幅縮減52%。”
CEA-Leti的CoolCube 3D途徑是在底層采用傳統的“熱”CMOS制程,并以鎢代替銅,然后在中間層采用冷卻的CMOS制程,最后在頂層則以銅金屬互連完成設計。 (來源:CEA-Leti)
CEA-Leti進行這項計劃的時間已經長達八年,預計將在未來三年內完成設計原型。該研究機構期望能在2018年以前完成10nm制程的可用晶片。
然而,根據Billoint指出,在 3D 單晶片設計要能成為主流以前,還存在幾個必須解決的問題。首先是如何決定哪一層必須在哪一層之上以及添加哪些功能,特別是發(fā)熱的模組,如 CPU ——必須把這些特定模組放在單層或分成數層以便分別散熱?
3D 單片技術的另一個重要問題是在許多節(jié)點存在立方體內部而無法以探針測試時如何實現設計?如何處理制程變異極端、特性化疊層熱行為以及尋找解決方法等。
最后,CEA-Leti認為50/50的分層尺寸分布,并不一定都是最佳化的情況,因此目前正致力于打造一個可為每一分層實現最佳化的規(guī)則組合。
“為什么所有分層的尺寸應該相同?有些人會用不同的制程技術,有些會執(zhí)行彼此不同的功能,而我們希望找到一種為每一分層尺寸實現最佳化的方法,”Billoint說。
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